产业动态
吉威数源首次亮相日本东京测量展
time: 2006-07-24 11:35:49 作者：
2006年东京测量展于7月5-7日在日本横滨召开，世界著名的测量设备供应商（如Leica、TOPCON、SOKKIA）、GIS及遥感软件厂商（如ESRI、Intergraph、SPOT）以及日本国内最大的测量企业（如PASCO、国际航业、亚洲航测）都参加了这一年一度的行业盛会。应日本测量协会邀请，中国测绘学会秘书长李根洪一行11人也出席了本次大会。
“来自中国的空间信息技术提供商”——北京吉威数源信息技术有限公司以软件厂商身份首次亮相东京测量展，引起了日本业界及世界同行的广泛关注。作为本次参展的主打产品，GEOWAY DPS—第二代数字摄影测量软件也赢得了许多日本客户的高度评价。
参加本次大会的中国企业还有武汉适普软件公司、南方测绘仪器公司、苏州仪器仪表公司。
